近日，中国计量院成功研制出新型光学二维图形圆度测量装置，并通过了专家验收。
该装置解决了高精度影像测头坐标测量机的溯源问题，将圆度测量的标准方法与影像探测技术创新性的结合在仪器，能够对二维圆图形高精度圆度校准。该装置是我国坐标测量机不断发展的结果，是满足坐标测量机的校准的新型仪器，能够进一步推动坐标测量机发展。
圆度误差测量方法主要用于形状误差评价，标准圆图形一般被用作评价探测误差的标准器。圆度误差测量的标准和传统方法是采用接触法，利用圆度仪进行测量，但是被测技术仅限于三维。面对标准二维圆图形圆度的测量则显得十分无力，只能采用影像坐标法对二维影像测量仪进行校准。
将二者创新性结合起来，解决了零高度二维图形的圆度测量问题，因此实现了对高精度标准圆图形的圆度校准。研究人员逐渐攻关了光学系统数值孔径、光学传感器噪声等对分辨力和测量能力的限制等难题，终于研制成功新型光学二维图形圆度测量装置，为光学影像测量设备标准器的溯源提供了新途径。
